產(chǎn)品介紹
Huace650T高低溫冷熱臺(tái)由華測(cè)儀器多位工程師多年開(kāi)發(fā)，冷熱臺(tái)可配合阻抗分析儀、高阻計(jì)、電化學(xué)工作站、數(shù)字原表設(shè)備進(jìn)行功能材料電學(xué)的相關(guān)測(cè)試，采用直接聯(lián)接測(cè)試儀表以減少測(cè)試導(dǎo)線(xiàn)的影響，同時(shí)電極加熱采用直流電極加熱方式，減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。在測(cè)試功能上也增加了電阻測(cè)試、TSDC等測(cè)量功能！
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
消除電網(wǎng)諧波對(duì)采集精度的影響
電網(wǎng)諧波是電網(wǎng)中存在的除基波電壓、電流以外的高次諧波分量。諧波產(chǎn)生的根本原因是由于非線(xiàn)性負(fù)載所致。當(dāng)電流流經(jīng)負(fù)載時(shí)，與所加的電壓不呈線(xiàn)性關(guān)系，就形成非正弦電流，從而產(chǎn)生諧波。嚴(yán)重干擾通信、計(jì)算機(jī)系統(tǒng)、高jing度加工機(jī)械，檢測(cè)儀表等用電設(shè)備的使用。目前加熱裝置大都是交流加熱絲加熱。交流加熱即50Hz正弦波對(duì)加熱絲進(jìn)行加熱的方式。為了解決這種工頻干擾以及電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量的影響，華測(cè)儀器采用了直流加熱方式進(jìn)行加熱。同時(shí)加入濾波等方式以更好的減少對(duì)測(cè)量過(guò)程中的影響。大大提高測(cè)量的精度。
消除高溫環(huán)境下測(cè)量導(dǎo)線(xiàn)阻抗影響及內(nèi)部屏蔽
01、傳輸線(xiàn)受其材料及結(jié)構(gòu)的影響，當(dāng)傳輸高頻信號(hào)時(shí)，導(dǎo)線(xiàn)內(nèi)各點(diǎn)電流與電壓的特性比。阻抗的不一致(不匹配)會(huì)導(dǎo)致測(cè)量的數(shù)據(jù)存在一定的誤差。所以在測(cè)量過(guò)程中一定要采用阻抗更匹配的測(cè)量導(dǎo)線(xiàn)；
02、測(cè)量的導(dǎo)線(xiàn)也存在著一定的阻抗及高頻響應(yīng)，故縮短測(cè)量導(dǎo)線(xiàn)將提高測(cè)量精度；
03、高溫環(huán)境下的測(cè)量導(dǎo)線(xiàn)無(wú)法做到更好的屏蔽，大都只做了絕緣處理，高溫導(dǎo)線(xiàn)受溫度的影響阻值變大，高溫導(dǎo)線(xiàn)因要求通過(guò)絕緣件（如陶瓷、耐火材料等）將會(huì)把一部分電容引入測(cè)量。 增大測(cè)量誤差；
04、測(cè)量的方式采用三電極測(cè)量，將會(huì)起到更好的屏蔽作用
優(yōu)化樣品溫度的測(cè)量方式及測(cè)量電極的
01、通過(guò)平行板電極的測(cè)量原理，可以更好的說(shuō)明測(cè)量的電極盡可能小，減少空間及雜散電容的影響的辦法是在樣品上濺射一層導(dǎo)電材質(zhì)。
02、因不同的材料熱晗不同，以熱電偶靠近樣品測(cè)試的溫度作為樣品的溫度同樣存在著一定的誤差。如果采用參比樣品的方式進(jìn)行測(cè)量，那么樣品的溫度就是材料真實(shí)溫度。
更強(qiáng)大的操作軟件
測(cè)試系統(tǒng)的軟件平臺(tái) Huacepro ，采用labview系統(tǒng)開(kāi)發(fā)，符合功能材料的各項(xiàng)測(cè)試需求，具備穩(wěn)定性與操作保護(hù)性，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料也可保存恢復(fù)。 兼容XP、win7、win10系統(tǒng)。
多語(yǔ)介面：支持中文/英文 兩種語(yǔ)言界面；
即時(shí)監(jiān)控：系統(tǒng)測(cè)試狀態(tài)即時(shí)瀏覽，無(wú)須等待；
圖例管理：通過(guò)軟件中的狀態(tài)圖示，一目了然，立即對(duì)狀態(tài)說(shuō)明，了解測(cè)試狀態(tài)；
使用權(quán)限：可設(shè)定使用者的權(quán)限，方便管理；
故障狀態(tài)：軟件具有設(shè)備的故障報(bào)警功能。
試驗(yàn)報(bào)告：自定義報(bào)表格式，一鍵打印試驗(yàn)報(bào)告，可導(dǎo)出EXCEL、PDF格式報(bào)表
軟件兼容：Huace（6300、6500）、Keysight（ E4990、E4991、E4980A）、waynekerr（6500B、6530、4235）同惠（2983、 2838、2851）等阻抗分析儀表。keithley 6487、6517b、HIOKI7110、7120，KeysightB2985、2987高阻計(jì)。keithley 2400 2450、2600系列源表（可作為四探針測(cè)試）
產(chǎn)品參數(shù)
溫控參數(shù)
01.溫度范圍：-185℃ ~ 600℃（負(fù)溫需配液氮制冷系統(tǒng)）
02.傳感器/溫控方式：100Ω鉑RTD / PID控制（含LVDC降噪電源）
03.加熱/制冷速度：+80℃/min （100℃時(shí)），-50℃/min （100℃時(shí)）
04.加熱/制冷速度：±0.25℃/min
05.溫度分辨率：0.01℃
06.溫度穩(wěn)定性：±0.05℃（>25℃），±0.1℃（<25℃）
07.軟件功能：可設(shè)溫控速率，可設(shè)溫控程序，可記錄溫控曲線(xiàn)
電學(xué)參數(shù)
01.探針：默認(rèn)為錸鎢材質(zhì)的彎針探針 *可選其他種類(lèi)電極
02.探針座：杠桿式探針支架，點(diǎn)針力度更大，電接觸性更好
03.點(diǎn)針：手動(dòng)點(diǎn)針，每個(gè)探針座都可點(diǎn)到樣品區(qū)上任意位置
04.探針接口：默認(rèn)為BNC接頭，可選三同軸接口* 可增設(shè)腔內(nèi)接線(xiàn)柱（樣品接電引線(xiàn)）
05.樣品臺(tái)面電位：默認(rèn)為電接地，可選電懸空（作背電極），可選三同軸接口
06.非磁性改造：臺(tái)體可改用非磁性材質(zhì)制造，用于變溫霍爾效應(yīng)探針測(cè)試
光學(xué)參數(shù)
01.適用光路：反射光路
02.窗片：可拆卸與更替的窗片
03.物鏡工作距離：8.5 mm
04.透光孔：臺(tái)面默認(rèn)無(wú)通光孔，可增設(shè)通光孔以支持透射光路
05.上蓋窗片觀察：窗片范圍φ38mm，視角±60.7°
06.負(fù)溫下窗片除霜：真空
結(jié)構(gòu)參數(shù)
01.加熱區(qū)/樣品區(qū)：30 mm
02.樣品腔高：6.3 mm ，樣品厚度由探針決定
03.放樣：打開(kāi)上蓋后置入樣品再點(diǎn)針，關(guān)上蓋后無(wú)法移動(dòng)探針
04.氣氛控制：氣密腔，可充入保護(hù)氣體 ，另有真空腔型號(hào)
05.外殼冷卻：可通循環(huán)水，以維持外殼溫度在常溫附近
06.安裝方式：水平安裝 或 垂直安裝
07.臺(tái)體尺寸/重量：210 mm x 180 mm x 50 mm / 2000g
產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)
01. 更精準(zhǔn)的測(cè)量方式
從根本上解決了，測(cè)量溫度、測(cè)量導(dǎo)線(xiàn)、電網(wǎng)諧波干擾，以及測(cè)量延長(zhǎng)導(dǎo)線(xiàn)阻抗對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)的影響。
02. 更完善的測(cè)量功能
比現(xiàn)有的高低溫阻抗分析儀，增加了TSDC、熱釋電、電阻、擊穿等測(cè)量功能。方便擴(kuò)展高低溫測(cè)試環(huán)境。在功能材料的電學(xué)測(cè)試，可輕松實(shí)現(xiàn)一套系統(tǒng) 完成所有電學(xué)測(cè)試。
03. 更嚴(yán)格的質(zhì)量管控嚴(yán)格做好每一款產(chǎn)品質(zhì)量把控
從原器件采購(gòu)、到生產(chǎn)過(guò)程的質(zhì)量控制，到產(chǎn)成品計(jì)量檢測(cè)，嚴(yán)格質(zhì)量把控，確保生產(chǎn)合格的科研儀器。
04. 更完善的售后服務(wù)體系整機(jī)保修三年
7X24小時(shí)在線(xiàn)服務(wù)。預(yù)裝遠(yuǎn)程服務(wù)軟件，實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程升級(jí)、維護(hù)等。
